| Titre : | Microanalyse par sonde électronique : spectrométrie de rayons X |
| Auteurs : | D. Benoit ; F. Grillon ; ANRT Association Nationale de la Recherche Technique;Groupement 8 "Microanalyse et microscopie electronique à balayage", Paris (FRA) ; F. Maurice ; Reunion du groupement : "Microanalyse et microscopie electronique a balayage" (1985/11/28-29; Paris, FRA) ; N. Roinel ; J. Ruste ; R. Tixier |
| Type de document : | congrès/colloque |
| Editeur : | Paris [FRA] : ANRT Association Nationale de la Recherche Technique, 1987 |
| Format : | n.p. |
| Langues: | = Français |
| Mots-clés: | SPECTROMETRIE DE RAYONS X ; MICROANALYSE PAR SONDE ELECTRONIQUE ; MICROANALYSE ; MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ; RAYON X |
Exemplaires (1)
| Centre | Localisation | Section | Cote | Statut | Disponibilité | Département |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Val de Loire | Carto | Congrès/Colloques | EAGCP -X4 | Empruntable | Disponible pour le prêt |
