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congrès/colloque
D. Benoit ; G. Brault ; ANRT Association Nationale de la Recherche Technique;Groupement 8 "Microanalyse et microscopie electronique à balayage", Paris (FRA) ; J. Bresse ; Les aspects quantitatifs de la microanalyse par sonde electronique (1987/01/15-16; Paris, FRA) ; F. Grillon ; F. Maurice ; J. Pouchou ; J. Ruste | Paris [FRA] : ANRT Association Nationale de la Recherche Technique | 1989congrès/colloque
D. Benoit ; F. Grillon ; ANRT Association Nationale de la Recherche Technique;Groupement 8 "Microanalyse et microscopie electronique à balayage", Paris (FRA) ; F. Maurice ; Reunion du groupement : "Microanalyse et microscopie electronique a balayage" (1985/11/28-29; Paris, FRA) ; N. Roinel ; J. Ruste ; R. Tixier | Paris [FRA] : ANRT Association Nationale de la Recherche Technique | 1987congrès/colloque
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F. Maurice, - Editeur scientifique ; L. Meny, - Editeur scientifique ; R. Tixier, - Editeur scientifique ; Ecole d'été (1978/09/11-16; St Martin d'Hères, FRA) | Les Ulis [FRA] : Editions de Physique | 1978ouvrage
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J. Ruste ; EDF | CLAMART : EDF | NOTES INTERNES DE LA DIRECTION DES ETUDES ET RECHERCHES-SERIE PRODUCTION D'ENERGIE,NO 93 NB 00067 | 1993Apres un bref rappel sur les interactions rayonnement,les principales parties du microanalyseur sont decrites.Si a l'origine la microanalyse avait ete developpee dans le but essentiel de fournir une information quantitative ponctuelle,l'aspect i[...]congrès/colloque
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P. Hawkes, - Editeur scientifique ; U. Valdre, - Editeur scientifique | London [GBR] : Academic Press | 1990ouvrage
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M. Wilkins, - Editeur scientifique ; K. Williams, - Editeur scientifique ; R. Appel, - Editeur scientifique ; D. Hochstrasser, - Editeur scientifique | London [GBR] : Springer | 1997