| Titre : | Advanced statistical methods in biometric research |
| Auteurs : | C. Rao |
| Type de document : | ouvrage |
| Editeur : | Hoboken [USA] : John Wiley & Sons, 1952 |
| Format : | 390 p. |
| Langues : | = Anglais |
| Mots-clés : | STATISTIQUE ; BIOMETRIE ; ANALYSE MULTIVARIABLE ; DISTANCE STATISTIQUE ; MAXIMUM DE VRAISEMBLANCE ; DISTRIBUTION |
Exemplaires (3)
| Centre | Localisation | Section | Cote | Statut | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Angers-Nantes | UMR IRHS** | Ouvrages | GV AGA-6/RAD | Empruntable | Disponible pour le prêt |
| Versailles-Saclay | ERIST Versailles | Ouvrages | DOCVE -T2658 | Consultable sur place | Exclu du prêt |
| Versailles-Saclay | ERIST Versailles | Ouvrages | DOCVE -T2658 | Consultable sur place | Exclu du prêt |
