| Titre : | Atomic scale structure and properties of interfaces |
| Auteurs : | O. Krivanek ; NSF National Science Foundation, Tempe A2 (USA) ; meeting (4; 1984/01/10-13; Wickenburg AZ, USA) |
| Type de document : | congrès/colloque |
| Editeur : | Amsterdam [NLD] : North Holland Publishing Company, 1984 |
| Format : | vol. 14 no. 1-2 172 p. |
| Langues : | = Anglais |
| Mots-clés : | ULTRAMICROSCOPIE ; MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ; DIFFRACTION ; DIFFUSION IONIQUE ; SPECTROMETRIE DE MASSE ; SILICIUM |
| Source : | Ultramicroscopy (NLD) |
Exemplaires (1)
| Centre | Localisation | Section | Cote | Statut | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Jouy-en-Josas Antony | ERIST Jouy-en-Josas | Congrès/Colloques | DOCJJ -763-P | Empruntable | Disponible pour le prêt |
