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Auteur N. Roinel |
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congrès/colloque
D. Benoit ; F. Grillon ; ANRT Association Nationale de la Recherche Technique;Groupement 8 "Microanalyse et microscopie electronique à balayage", Paris (FRA) ; F. Maurice ; Reunion du groupement : "Microanalyse et microscopie electronique a balayage" (1985/11/28-29; Paris, FRA) ; N. Roinel ; J. Ruste ; R. Tixier | Paris [FRA] : ANRT Association Nationale de la Recherche Technique | 1987