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congrès/colloque
M. Molenaar, Editeur scientifique ; L. Janssens ; H. Van Leeuwen, Editeur scientifique ; A. Hoeneveld, Editeur scientifique ; International workshop IAPR TC7 (1992/09/07-09; Delft, NLD) | Wageningen [NLD] : International Association for Pattern Recognition | 1993
