Éditeur SPIE Optical Engineering Press
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ouvrage
Radiometry and photometry. CCD (Charge-coupled devices). Array performance. Cameras. Camera performance. CRT based displays. Sampling theory. MTF theory. System MTF. Image quality. Minimum resolvable contrast.
congrès/colloque
B. Batchelor ; F. Waltz ; Machine Vision Systems Intégration, Boston, USA, 6-7 nov. 1990 (1990; USA) | Washington (USA) : SPIE Optical Engineering Press | 1991Construction d'une infrastructure pour l'intégration d'un système de visionique standard. Eclairage et méthodes de prises de vues pour la visionique. Le personnel comme partie du système, élément clé du succès. Insuffisance des intégrateurs. Etu[...]
