Résumé :
|
Cette analyse de controle par courant de Foucault de defauts dans des materiaux conducteurs est divisee en deux parties.La premiere partie (ce texte) etudie l'application des techniques d'imagerie par tomographie par diffraction (DT) en mode reflexion.Des images de la coupe transversale du defaut font apparaitre des caracteristiques interessantes,telles que la localisation,la taille,la forme et le contraste de conductivite.Les donnees sont les champs d'anomalie harmoniques dans le temps,echantillonnes sur une ligne superieure et parallele a l'interface air-metal de la structure endommagee lorsqu'une source connue est egalement placee au-dessus de cette interface.Des images sont crees par la surimpression d'hologrammes dans le domaine spectral (espace K),chacune etant obtenue pour une frequence donnee et en utilisant une transformation de Fourier pour revenir a l'espace reel.Ce texte est lui-meme divise en deux parties.Premierement,des donnees synthetiques precises sont calculees pour diverses configurations canoniques en utilisant une methode des moments et elles sont comparees a celles qui sont calculees par un code a elements finis et par des donnees experimentales.L'analyse de ces donnees en particulier presente un certain interet mais montre aussi quelques limites a l'approximation de Born.Deuxiemement,deux algorithmes d'imagerie sont proposes et etudies par simulations numeriques:le premier emane directement de la tomographie par diffraction ultrasonique ou la plus grande part de l'amortissement est negligee et le second rend compte de l'effet de peau.De plus,une methode precise est donnee mais n'est pas appliquee par principe car elle remplace une transformation de Fourier par une transformation de Laplace numeriquement complexe.
|