Titre : | Wellenlangen- und winkeltafeln zur rontgenspektralanalyse |
Auteurs : | E. Muller ; Siemens Halske Aktiengesellschaft, Munich (DEU). Wernerwerk fur Messtechnik |
Type de document : | ouvrage |
Editeur : | Munich [DEU] : Siemens, 1960 |
Format : | 100 p. |
Langues: | = Allemand |
Mots-clés: | DIFFRACTION X ; RAYON X ; LONGUEUR D'ONDE ; TABLE DE CONVERSION |
Exemplaires (1)
Centre | Localisation | Section | Cote | Statut | Disponibilité | Département |
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PACA | EMMAH | Ouvrages | SS AVS-BJ18 | Consultable sur place | Exclu du prêt |