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Titre :
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Scan statistics : methods and applications, [in honor of Joseph I. Naus
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Auteurs :
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J. Glaz, Auteur ;
V. Pozdnyakov, Auteur ;
S. Wallenstein, Auteur
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Type de document :
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ouvrage
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Editeur :
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Boston [USA] : Birkhäuser Verlag, 2009
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Collection :
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Statistics for industry and technology
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ISBN/ISSN/EAN :
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978-0-8176-4748-3
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Format :
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1 vol. (xxviii-394 p.) / ill. / 27 cm
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Langues :
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= Anglais
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Mots-clés :
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STATISTIQUES DE SCAN
;
VALEURS EXTREME
;
DEPASSEMENT
;
DE SEUIL
;
DETECTION DE CLUSTER
;
RESEAUX BAYESIENS
;
METHODE MARTINGALES
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