| Titre : | L'analyse par spectrographie et diffraction de rayons x. 2 volumes |
| Auteurs : | Philips Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (NLD). Departement Appareils Scientifiques ; Colloque (1962/10/02-05; Madrid, ESP) |
| Type de document : | congrès/colloque |
| Editeur : | Eindhoven [NLD] : Philips, 1963 |
| Format : | 2 vol. |
| Langues: | = Français |
| Mots-clés: | DIFFRACTION X ; SPECTROMETRIE D'ABSORPTION X ; ELEMENT MINERAL ; ANALYSE PAR FLUORESCENCE ; AUTOMATISATION ; ANALYSE MOLECULAIRE ; ARGILE |
Exemplaires (2)
| Centre | Localisation | Section | Cote | Statut | Disponibilité | Département |
|---|---|---|---|---|---|---|
| PACA | EMMAH | Congrès/Colloques | SS AVS-BJ11 | Consultable sur place | Exclu du prêt | |
| PACA | EMMAH | Congrès/Colloques | SS AVS-BJ12 | Consultable sur place | Exclu du prêt |
