| Titre : | X-ray and electron probe analysis |
| Auteurs : | American Society for Testing and Materials, Philadelphie (USA) ; Symposium (1963/06/27; Atlantic City, USA) |
| Type de document : | congrès/colloque |
| Editeur : | Philadelphie [USA] : ASTM American Society for Testing and Materials, 1964 |
| Format : | 209 p. |
| Langues : | = Anglais |
| Mots-clés : | RAYON X ; DIFFRACTION X ; SONDE ELECTRONIQUE |
Exemplaires (1)
| Centre | Localisation | Section | Cote | Statut | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| PACA | EMMAH | Congrès/Colloques | SS AVS-BJ2 | Consultable sur place | Exclu du prêt |
